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1Gビット/秒の転送速度を持つSoCテストシステム

5/14(日) 19:40配信

EDN Japan

■IoT市場とIC市場向け各種半導体テストソリューション

 クロマは2017年4月、IoT(モノのインターネット)市場とIC市場向けに各種半導体テストソリューションを発表した。SoC(Sytem on Chip)テストシステム「Chroma 3680」、PXIeデジタルI/Oカード「Chroma 33010 」、3温度SLTハンドラー「Chroma 3260」、テーブルトップシングルサイトハンドラー「Chroma 3111」、RF ATEテスター「MP5800」の5製品となる。

 Chroma 3680は、最高1Gビット/秒のデータ転送速度を備えたSoCテストシステム。デジタルICとアナログICのテストに加え、複数のチップを並行してテストできる。MCUをはじめ、デジタルオーディオ、セットトップボックス、DSP、FPGAなどに対応している。

 Chroma 33010は、MCU、MEMS、RF IC、PMIC(電源管理IC)などの半導体テストに対応。小型のICチャンネルやIoT、車載電装品のICを保護する。

 Chroma 3260は、-40~125℃の温度範囲を±1℃の精度でコントロールする温度制御機能を備えている。複数のモジュールボードの並行試験に適しており、QFP、TQFP、MuBGA、PGA、CSPなどの各種パッケージに対応した検査用ソケットを搭載した。自動車に特化したIoTであるIoV(Internet of Vehicle)や、クラウドコンピューティング業界向けのIC部品に対応している。

 また、Chroma 3111は設置面積が60cm2と小型で、5×5mm~45×45mmのパッケージサイズに対応。研究開発段階におけるシステム機能テスト向けに設計され、端子台によるテストが行える。

 MP5800は、6GHzのテストレンジをカバーし、120MHzの帯域幅で4/8 RFポートに対応する。Wi-Fi、BT、GPSやその他IoT接続IC、PA、LNA、コンバーターなどのRFコンポーネントを含むRF/デジタルATE(CP、FT、SLT)テストを実施できる。

最終更新:5/14(日) 19:40
EDN Japan